京都玉崎有限公司對外宣告：柳下技研 YGN-590-FAVG（Fiber Array / Ferrule Apex / Vertex Geometric inspector）光纖插芯端面綜合檢測儀 已完成入倉質檢及上L，現接受單臺及系統級配置訂購。
YGN-590-FAVG 是在 YGN-590 標準型基礎上強化 FA（Fiber Array 光纖陣列）與通用插芯端面幾何量（Apex、曲率、偏移）及表面微觀形貌評價 的版本，光學系統采用 高 NA 共焦顯微＋相位移干涉（PSI）或垂直掃描干涉（VSI）模塊可選，可對 PC/APC 端面、小曲率半徑（R 1.5～20 mm）及高反射/低反射端面 進行非接觸三維重構，Z 向分辨率達 0.1 nm 級（干涉模式），平面度/粗糙度同步評價。FAVG 后綴強調其對 Fiber Array 塊、PLC 輸出端面、Si 光波導耦合端 之適配——裝夾臺可換 FA 專用 V 槽基座與壓板，自動識別陣列孔位并逐個測 apex offset 與各纖芯相對基面高度差。
到貨商品經原廠光學標定（標準平晶/球晶）、軟件算法校驗（自動識別纖芯區邊緣、去噪、擬合球面）及長時間漂移監測，附帶校準證書、FA 裝夾治具及防塵操作手套。京都玉崎技術部可協助提供與 IEC 60793-2-50、Telcordia GR-326對應判定模板及批量輸出 Excel/Csv 報告之宏腳本。
YGN-590-FAVG 多用于光器件廠 FA 塊出貨檢驗、PLC/SiPh 波導耦合端面對齊精度分析、高 NA 特種光纖插芯（如保偏 PANDA）端面曲率合規驗證。歡迎聯系京都玉崎獲取報價與交期。
更新時間：2026-07-07 
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